V transmisní elektronové mikroskopii (TEM) došlo v posledních 20 letech k velmi významnému pokroku. Byly vyvinuty nové experimentální techniky, jako jsou pozorování s atomovým rozlišením, elektronová holografie, elektronová tomografie, konvergentní difrakce pod velkými úhly atd. Doslovným mezníkem je zkonstruování korektoru sférické vady, který umožnil zvýšit rozlišovací schopnost TEM více než 2x, až na hodnotu 0,05 nm. Poslední české texty o TEM jsou více než 20 let staré, a proto se autor snaží tuto mezeru vyplnit. Kniha je koncipována spíše prakticky, teoretické základy jsou uvedeny pouze v omezené míře, nezbytně nutné pro pochopení popisovaných jevů. U jednotlivých experimentálních technik je popsán jejich princip, příklady aplikací v materiálovém výzkumu a odkazy na originální anglickou literaturu (články nebo knihy). Text je doplněn řadou schémat a četnými mikrofotografiemi z archivu autora nebo od jeho českých i zahraničních kolegů.

Ukázky z knihy: